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  • 益和阻抗分析儀6632-30
    益和阻抗分析儀6632-30

    更新日期:2024-06-12

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    益和阻抗分析儀6632-30,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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  • 益和阻抗分析儀內(nèi)置12V電源6632-30
    益和阻抗分析儀內(nèi)置12V電源6632-30

    更新日期:2024-05-29

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    益和阻抗分析儀內(nèi)置12V電源6632-30,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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  • 益和LCR精密阻抗分析儀6632-50
    益和LCR精密阻抗分析儀6632-50

    更新日期:2024-03-29

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    益和LCR精密阻抗分析儀6632-50,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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  • 中國(guó)臺(tái)灣益和高頻阻抗分析儀6632-5
    中國(guó)臺(tái)灣益和高頻阻抗分析儀6632-5

    更新日期:2023-12-07

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    中國(guó)臺(tái)灣益和高頻阻抗分析儀6632-5,具備高精確度、速度,且經(jīng)濟(jì)型多功能,能夠執(zhí)行的元件測(cè)試。可搭配DC Bias 機(jī)型。多項(xiàng)參數(shù)同時(shí)測(cè)是只需一次設(shè)定,一次同時(shí)顯示。高精密值的量測(cè)數(shù)據(jù)與的功效,為元件和材料*的測(cè)試儀器。
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  • 益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V電源6632-30
    益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V電源6632-30

    更新日期:2023-11-16

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    益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V電源6632-300,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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  • 益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V6632
    益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V6632

    更新日期:2023-10-31

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    益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V6632,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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  • 益和LCR精密阻抗分析儀6632-30/
    益和LCR精密阻抗分析儀6632-30/

    更新日期:2023-10-20

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    益和LCR精密阻抗分析儀6632-30/,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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  • 益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V6632-30
    益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V6632-30

    更新日期:2023-10-13

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    益和精密阻抗分析儀內(nèi)置12V6632-30,提供7種頻率選項(xiàng)(10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試,測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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